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安捷倫的快速測(cè)試(Express Test)榮膺“全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)(R&D 100 Award)”

發(fā)布時(shí)間:2013-08-02 作者: 來源:安捷倫 瀏覽:1190

      安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布,作為對(duì)各種材料進(jìn)行高精度納米力學(xué)測(cè)試的超快速方法,其 Express Test(快速測(cè)試)榮獲全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)。
      這些獎(jiǎng)項(xiàng)是業(yè)界最受推崇的榮譽(yù),獲獎(jiǎng)?wù)哂瑟?dú)立的評(píng)審團(tuán)以及《R&D Magazine(研發(fā)雜志)》的編輯聯(lián)合評(píng)出,目的是表彰去年上市的 100 種最具技術(shù)創(chuàng)新意義的產(chǎn)品。
      Express Test 是一種創(chuàng)新的系統(tǒng)選件,能夠獨(dú)一無二地與暢銷的 Agilent Nano Indenter G200 配合使用。兩者聯(lián)合,可在 100 秒內(nèi)在 100 個(gè)不同的表面位置執(zhí)行多達(dá) 100 次的納米壓痕測(cè)量。
      對(duì)于科學(xué)和工業(yè)部門的研究人員來說,Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即點(diǎn)即拍的簡便性。它適用于金屬、玻璃、陶瓷、結(jié)構(gòu)型高分子、薄膜和低介電材料等多種應(yīng)用。
      Express Test 使 Nano Indenter G200 能夠在載荷控制或位移控制模式下工作。使用 Express Test,用戶可以在幾分鐘內(nèi)完成壓頭的面積函數(shù)校準(zhǔn),獲得楊氏模量和硬度的數(shù)值統(tǒng)計(jì)以及定量的力學(xué)性能圖形。
      全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)每年評(píng)選一次,第 51 屆頒獎(jiǎng)典禮將于 11 月 7 日在美國佛羅里達(dá)州奧蘭多市舉行。

安捷倫科技提供的納米力學(xué)系統(tǒng)
      安捷倫為科研、工業(yè)和教育行業(yè)提供高精度、模塊化的納米測(cè)量解決方案。經(jīng)驗(yàn)豐富的應(yīng)用科學(xué)家和技術(shù)服務(wù)人員為其提供全球支持。安捷倫的尖端研發(fā)實(shí)驗(yàn)室能夠確保及時(shí)推出和優(yōu)化創(chuàng)新和易于使用的納米力學(xué)系統(tǒng)技術(shù)。

 

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